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由于样品中散射的电子能量是从背底投射出的衍射花样,从而降低了菊池带的对比。所以可去除背底强度以改善菊池带的强度。背底信息可以通过电子束扫描样品中的很多晶粒从而得到一个平均的衍射信息而得到。

图 3 奥氏体钢扣除背底后的衍射花样

Background

(a) 背景

Original pattern

(b) 原始花样

Pattern after background subtraction

(c) 扣除背景的花样

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